| Autor: |
Abe, K., Abe, T., Adachi, I., Ahn, Byoung Sup, Aihara, H., Akai, K., Akatsu, M., Akemoto, M., Asano, Y., Aso, T., Itoh, R., Iwasaki, H., Iwasaki, M., Iwasaki, Y., Kang, J. H., Kang, J. S., Katayama, N., Park, C. W., Schneider, O., Ogawa, S., Shwartz, B., Kawai, H., Kawasaki, T., Kichimi, H., Kikutani, E., Kim, H. J., Kim, J. H., Kim, S. K., Kinoshita, K., Koppenburg, P., Schümann, J., Sidorov, V., Park, H., Korpar, S., Ogawa, Y., Krokovny, P., Kulasiri, R., Kuzmin, A., Kwon, Y. -J., Lee, S. H., Lesiak, T., Li, J., Singh, J. B., Schwartz, A. J., Limosani, A., Parslow, N., Lin, S. -W., Liventsev, D., Ohmi, K., Mandl, F., Matsumoto, T., Matyja, A., Michizono, S., Soni, N., Mimashi, T., Semenov, S., Mitaroff, W., Miyabayashi, K., Piilonen, L. E., Miyata, H., Mohapatra, D., Mori, T., Ohnishi, Y., Nagamine, T., Stanič, S., Nagasaka, Y., Nakamura, T. T., Senyo, K., Nakano, E., Nakao, M., Nakazawa, H., Root, N., Ohshima, T., Ohuchi, N., Okabe, T., Starič, M., Aulchenko, V., Okuno, S., Ostrowicz, W., Seuster, R., Sagawa, H., Aushev, T., Saitoh, S., Chen, K. -F., Sakai, Y., Satapathy, M., Sugi, A., Bakich, A. M., Cheon, B. G., Sevior, M. E., Enari, Y., Shibuya, H., Shidara, T., Chistov, R., Flanagan, J., Ban, Y., Hayashii, H., Sumisawa, K., Sumiyoshi, T., Suzuki, S., Suzuki, S. Y., Takasaki, F., Tamai, K., Tamura, N., Tanaka, M., Tawada, M., Fukunaga, C., Hazumi, M., Choi, S. -K., Taylor, G. N., Banerjee, S., Teramoto, Y., Tomura, T., Tsuboyama, T., Tsukamoto, T., Uehara, S., Ueno, K., Uno, S., Hokuue, T., Furukawa, K., Varner, G., Choi, Y., Wang, C. C., Wang, C. H., Bay, A., Wang, J. G., Watanabe, Y., Won, E., Yabsley, B. D., Hoshi, Y., Yamada, Y., Gabyshev, N., Yamaguchi, A., Yamashita, Y., Choi, Y. K., Yamauchi, M., Yanai, H., Yang, Heyoung, Bedny, I., Yoshida, M., Hou, W. -S., Yusa, Y., Zhang, Z. P., Garmash, A., Zheng, Y., Zhilich, V., Žontar, D., Chuvikov, A., Bizjak, I., Bondar, A., Bozek, A., Huang, H. -C., Bračko, M., Browder, T. E., Chao, Y., Gershon, T., Danilov, M., Dong, L. Y., Drutskoy, A., Natkaniec, Z., Eidelman, S., Eiges, V., Iijima, T., Guo, R., Nishida, S., Haba, J., Ozaki, H., Hagner, C., Handa, F., Nitoh, O., Palka, H., Ikeda, H., Satpathy, A., Inami, K., Ishikawa, A. |
