Evaluation of Radiation Hardness for Nitride Semiconductor Samples

Autor: Narita, S., Chiba, Y., Ichinose, D., Hitora, T., Yamaguchi, E., Sakemi, Y., Itoh, T., Yoshida, H.
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2008
Zdroj: CYRIC annual report. 2008:56-60
Databáze: OpenAIRE