Evaluation of Radiation Hardness for Nitride Semiconductor Samples
Autor: | Narita, S., Chiba, Y., Ichinose, D., Hitora, T., Yamaguchi, E., Sakemi, Y., Itoh, T., Yoshida, H. |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2008 |
Zdroj: | CYRIC annual report. 2008:56-60 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |