Development of Secondary Electron Emission Yield Measurement System for Electron Beam Irradiated Materials
| Autor: | Taniguchi, Hiroaki, Satoh, Natsumi, Miyake, Hiroaki, Tanaka, Yasuhiro, Okumura, Teppei, Kawakita, Shiro, Takahashi, Masato, Koga, Kiyokazu |
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| Jazyk: | japonština |
| Rok vydání: | 2017 |
| Zdroj: | 宇宙航空研究開発機構特別資料: 第13回宇宙環境シンポジウム講演論文集 = JAXA Special Publication: Proceedings of the 13th Spacecraft Environment Symposium. :149-152 |
| ISSN: | 1349-113X |
| Popis: | 第13回宇宙環境シンポジウム (2016年11月1日-2日. 情報通信研究機構 本部 国際会議室), 小金井市, 東京 The 13th Spacecraft Environment Symposium (November 1-2, 2016. National Institute of Information and Communications Technology), Koganei, Tokyo, Japan 形態: カラー図版あり Physical characteristics: Original contains color illustrations 資料番号: AA1630038028 レポート番号: JAXA-SP-16-010 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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