The observation of atomic dynamics in liquid silicon by using inelastic x-ray scattering method coupled with electrostatic levitation method
| Autor: | Masaki, Tadahiko, Ishikawa, Takehiko, Okada, Junpei T., Koike, Noriyuki |
|---|---|
| Jazyk: | japonština |
| Rok vydání: | 2007 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | 宇宙航空研究開発機構研究開発報告 = JAXA Research and Development Report: Liquid Structure and Transport Properties of High Temperature Metallic Melts. :25-29 |
| ISSN: | 1349-1113 |
| Popis: | 高温融体内の原子の運動に関する実験的な知見は、融体の熱物性と構造の関係を理解する上で極めて重要である。我々は、高温融液の原子ダイナミクスの観察を目的として非弾性X線散乱用の小型の静電浮遊装置を開発し、融点および過冷却液体シリコンの動的構造因子を測定した。本装置を用いることにより液体シリコンのフォノンピークが明瞭に観察され、その分散関係が明らかになった。 The atomic dynamics in high temperature melts are essential information for the understanding of the relation between liquid structure and thermo-physical properties in liquid state. The small Electrostatic Levitation furnace, ESL, was developed for the inelastic X-ray scattering facility in SPring-8. The observation of dynamic liquid structure factor, S (Q, w) of normal and undercooled liquid silicon was performed. The phonon peak of S (Q, w) in the liquid silicon was clearly observed and its dispersion relation can be obtained. 資料番号: AA0063323004 レポート番号: JAXA-RR-06-015E |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|