Isotope Microscope : Imaging SIMS with High sensitive 2D-ion-detection

Autor:	Yurimoto, Hisayoshi
Jazyk:	japonština
Rok vydání:	2006
Předmět:	同位体 荷電粒子 イメージング 428.4 二次イオン質量分析法 固体撮像素子
Zdroj:	顕微鏡. 41(2):134-137
ISSN:	1349-0958
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::08f0d8e6bfc050a4d7d9276969287e49 http://hdl.handle.net/2115/28040 Zobrazit plný text záznamu