Как работают сканирующие электронные микроскопы?

Autor: Beliakova Evgeniia Vladimirovna, Orlov Aleksei Veniaminovich
Jazyk: ruština
Rok vydání: 2020
Předmět:
Zdroj: Scientific studies: theory, methodology and practice
Научные исследования: теория, методика и практика
Popis: Основное внимание в работе акцентируется на анализе сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Автором рассмотрены преимущества и недостатки использования СЭМ.
Databáze: OpenAIRE