Как работают сканирующие электронные микроскопы?
Autor: | Beliakova Evgeniia Vladimirovna, Orlov Aleksei Veniaminovich |
---|---|
Jazyk: | ruština |
Rok vydání: | 2020 |
Předmět: | |
Zdroj: | Scientific studies: theory, methodology and practice Научные исследования: теория, методика и практика |
Popis: | Основное внимание в работе акцентируется на анализе сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Автором рассмотрены преимущества и недостатки использования СЭМ. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |