Исследование электрических характеристик структур TiO2-Si
Přispěvatelé: | Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников, Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ |
---|---|
Jazyk: | ruština |
Rok vydání: | 2013 |
Předmět: | |
Zdroj: | Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 8/3. С. 147-149 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |