Resistividade do filme depositado via sol-gel e estado de oxidação do dopante Ce na matriz SnO2
Autor: | V. Briois, Luis Vicente de Andrade Scalvi, Marco A. L. Pinheiro, Margarida Juri Saeki, Tatiane F. Pineiz |
---|---|
Přispěvatelé: | Universidade Estadual Paulista (Unesp), L´Orme des Merisiers |
Jazyk: | portugalština |
Rok vydání: | 2011 |
Předmět: |
Materials science
terras-raras cério Doping Analytical chemistry rare-earth XANES symbols.namesake cerium Depletion region thin films Oxidation state Electrical resistivity and conductivity dióxido de estanho symbols Ceramics and Composites tin dioxide Grain boundary filmes finos electrical transport Thin film transporte elétrico Raman spectroscopy |
Zdroj: | SciELO Repositório Institucional da UNESP Universidade Estadual Paulista (UNESP) instacron:UNESP Cerâmica v.57 n.342 2011 Cerâmica (São Paulo. Online) Universidade de São Paulo (USP) instacron:USP Cerâmica, Volume: 57, Issue: 343, Pages: 225-230, Published: SEP 2011 Cerâmica v.57 n.343 2011 |
ISSN: | 0366-6913 |
Popis: | Submitted by Guilherme Lemeszenski (guilherme@nead.unesp.br) on 2013-08-22T19:02:47Z No. of bitstreams: 1 S0366-69132011000300019.pdf: 537919 bytes, checksum: 07300f7e3a97e9cd328377ae3f42567e (MD5) Made available in DSpace on 2013-08-22T19:02:47Z (GMT). No. of bitstreams: 1 S0366-69132011000300019.pdf: 537919 bytes, checksum: 07300f7e3a97e9cd328377ae3f42567e (MD5) Previous issue date: 2011-09-01 Made available in DSpace on 2013-09-30T20:04:01Z (GMT). No. of bitstreams: 2 S0366-69132011000300019.pdf: 537919 bytes, checksum: 07300f7e3a97e9cd328377ae3f42567e (MD5) S0366-69132011000300019.pdf.txt: 28946 bytes, checksum: 279b6e809d8db7188075340db069e408 (MD5) Previous issue date: 2011-09-01 Submitted by Vitor Silverio Rodrigues (vitorsrodrigues@reitoria.unesp.br) on 2014-05-20T15:16:25Z No. of bitstreams: 2 S0366-69132011000300019.pdf: 537919 bytes, checksum: 07300f7e3a97e9cd328377ae3f42567e (MD5) S0366-69132011000300019.pdf.txt: 28946 bytes, checksum: 279b6e809d8db7188075340db069e408 (MD5) Made available in DSpace on 2014-05-20T15:16:25Z (GMT). No. of bitstreams: 2 S0366-69132011000300019.pdf: 537919 bytes, checksum: 07300f7e3a97e9cd328377ae3f42567e (MD5) S0366-69132011000300019.pdf.txt: 28946 bytes, checksum: 279b6e809d8db7188075340db069e408 (MD5) Previous issue date: 2011-09-01 Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) Incorporação de Ce3+ ou Ce4+ em filmes finos de SnO2 depositados via sol-gel-dip-coating aumenta drasticamente a resistividade elétrica. No primeiro caso, temos comportamento aceitador do dopante, levando a matriz à alta compensação de carga. Por outro lado, para Ce4+, verifica-se aumento na largura da região de depleção do contorno de grão, resultando em maior espalhamento de elétrons. Medidas de caracterização elétrica sob pressão ambiente levam à barreiras de potencial mais altas do que as medidas sob vácuo, devido a adsorção de oxigênio na superfície das partículas. A presença de Ce3+ aumenta a transmitância no infravermelho, o que significa menor quantidade de elétrons livres. Dados de XANES confirmam que o tratamento térmico a 550 ºC dos filmes, ainda que promova oxidação parcial para Ce4+, preserva uma quantidade significativa (em torno de 60%) no estado Ce3+. Espectroscopia Raman mostra a evolução dos modos de vibração intra-grãos de SnO2 com o aumento da temperatura de tratamento térmico. Incorporation of Ce3+ or Ce4+ in sol-gel dip-coating SnO2 thin films increases drastically its electrical resistivity. In the first case, it is due the acceptor-like nature of the doping ion, leading the matrix to high charge compensation. on the other hand, for Ce4+ doped samples, it is verified a broadening of the grain boundary depletion layer. Measurements under room pressure leads to higher intergrain potential barriers when compared to measurements carried out under vacuum conditions, due to oxygen adsorption at particles surface. The presence of Ce3+ increases the infrared transmittance, which means a lower free electron concentration. XANES data confirms that the thermal annealing at 550 ºC of thin films, although promotes oxidation to Ce4+, still keeps a significantly amount (about 60%) of ions in the oxidation state Ce3+. Raman spectroscopy data show the evolution of the SnO2 bulk vibration modes with increasing thermal annealing temperature. Universidade Estadual Paulista FC Dep. Física Universidade Estadual Paulista Universidade Estadual Paulista Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia Materiais Universidade Estadual Paulista Instituto de Biociências Dep. Química e Bioquímica Universidade Estadual Paulista FC Dep. Física Universidade Estadual Paulista Universidade Estadual Paulista Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia Materiais Universidade Estadual Paulista Instituto de Biociências Dep. Química e Bioquímica |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |