Insight into carrier lifetime impact on band-modulation devices

Autor: Sorin Cristoloveanu, Sebastien Martinie, Maryline Bawedin, Hyung Jin Park, Hassan El Dirani, Yuan Taur, Jean-Charles Barbe, Kyung Hwa Lee, Joris Lacord, Yue Xu, Mukta Singh Parihar
Přispěvatelé: Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Nanjing University of Posts and Telecommunications [Nanjing] (NJUPT), University of California [San Diego] (UC San Diego), University of California, European Project: 687931,H2020,H2020-ICT-2015,REMINDER(2016), University of California (UC)
Jazyk: angličtina
Předmět:
Zdroj: Solid-State Electronics
Solid-State Electronics, Elsevier, 2018, 143, pp.41-48. ⟨10.1016/j.sse.2017.12.007⟩
Solid-State Electronics, 2018, 143, pp.41-48. ⟨10.1016/j.sse.2017.12.007⟩
ISSN: 0038-1101
DOI: 10.1016/j.sse.2017.12.007
Popis: International audience; A systematic study to model and characterize the band-modulation Z2-FET device is developed bringing light to the relevance of the carrier lifetime influence. This work provides guidelines to optimize the Z2-FETs for sharp switching, ESD protection, and 1T-DRAM applications. Lower carrier lifetime in the Z2-FET helps in attaining the sharp switch. We provide new insights into the correlation between generation/recombination, diffusion, electrostatic barriers and carrier lifetime.
Databáze: OpenAIRE