Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
Knihovna bude uzavřena od 23. 12. 2024 do 3. 1. 2025.
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Domovská stránka
Detection of surface defects o...
Jednotky
Navrhnout nákup titulu
Detection of surface defects on sheet metal parts by using one-shot deflectometry in the infrared range
Autor:
Sárosi, Zoltán
,
Knapp, Wolfgang
,
Kunz, Andreas
,
Wegener, Konrad
Jazyk:
angličtina
Rok vydání:
2010
Předmět:
REFLECTION PHOTOMETRY
METALLFILME + METALLFOLIEN + METALLFEINBLECHE (METALLPRODUKTE)
METAL PLATES + METAL SHEETS + METAL FILMS (METAL PRODUCTS)
INNERE MATERIALFEHLER (MATERIALPRÜFUNG)
INFRAROTGERÄTE (OPTISCHE INSTRUMENTE)
REFLEXPHOTOMETRIE
INFRARED INSTRUMENTS (OPTICAL INSTRUMENTS)
INTERNAL DEFECTS (MATERIALS TESTING)
Engineering & allied operations
ddc:620
Databáze:
OpenAIRE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::de91f1d4e8bdc4595d1a1184ae49ddc9
https://hdl.handle.net/20.500.11850/152291
Zobrazit plný text záznamu
Jednotky
Popis
Exportovat záznam
Export to RIS
×
načítá se......