Additivity of Capacitive and Inductive Coupling in Submicronic Interconnects

Autor: Fabrice Huret, Yves Quéré, T. Le Gouguec, J.E. Lorival, D. Deschacht
Přispěvatelé: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications (LEST), Université de Brest (UBO)-Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications de Bretagne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192) (Lab-STICC), Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Université de Brest (UBO)-Télécom Bretagne-Institut Brestois du Numérique et des Mathématiques (IBNM), Université de Brest (UBO)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IEEE, Peridier, Martine, Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Université de Brest (UBO)-Institut Brestois du Numérique et des Mathématiques (IBNM), Université de Brest (UBO)-Télécom Bretagne-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2006
Předmět:
Zdroj: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.300-304
Popis: International audience; Constant evolution in integrated circuit technology has led to an increase in the switching speed of the digital chip. As a result, there is a growing interest in the inductance associated with signal lines. Inductive coupling effects on interconnects is an emerging concern in high performance digital integrated circuits. Based on an RLC transmission line model, associated to each propagation mode, a new crosstalk noise model is proposed to evaluate both the capacitive and the inductive coupling. The additivity of the coupling is shown and validated with several simulations.
Databáze: OpenAIRE