Back-side integration of Hybrid III–V on Silicon DBR lasers

Autor: Pierre Brianceau, Jacques-Alexandre Dallery, Christophe Jany, Sebastien Cremer, J. Durel, T. Card, Badhise Ben Bakir, Jean-Emmanuel Broquin, Frederic Boeuf, Loic Sanchez, Karim Hassan, R. Thibon, Bertrand Szelag, V. Larrey, T. Bria, R. Guiavarch
Přispěvatelé: STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Vistec Electron Beam GmbH, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2017
Předmět:
Zdroj: 2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA)
2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), Apr 2017, Hsinchu, Taiwan. pp.1-2, ⟨10.1109/VLSI-TSA.2017.7942492⟩
DOI: 10.1109/VLSI-TSA.2017.7942492⟩
Popis: International audience; In this paper we demonstrate the monolithic integration of a fully CMOS compatible hybrid DBR laser on the backside of a SOI wafer. This innovative approach allowed implementing CMOS compatible electric interconnects and optical sources on a same chip. The optical characterizations confirm the single wavelength behavior of the realized devices which present a SMSR higher than 35 dB and can be tuned over 4 nm, opening the route to a fully integrated optical transceiver on a Si platform.
Databáze: OpenAIRE