Surface crack reconstruction from eddy current images using a direct semi-analytic model
| Autor: | Romain Soulat, Eric Vourc'H, Caifang Cai, Thierry Bore |
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| Přispěvatelé: | Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE), École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Gustave Eiffel (UNIV GUSTAVE EIFFEL), Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay, Laboratoire Spécification et Vérification [Cachan] (LSV), École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Cergy Pontoise (UCP), Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire des signaux et systèmes (L2S), Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2015 |
| Předmět: |
Surface (mathematics)
History Engineering Flow (psychology) [PHYS.MPHY]Physics [physics]/Mathematical Physics [math-ph] eddy current Education law.invention law Nondestructive testing Genetic algorithm Convergence (routing) Electronic engineering Eddy current genetic algorithm Sensitivity (control systems) ComputingMilieux_MISCELLANEOUS nondestructive testing business.industry imaging crack retrieval Computer Science Applications [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism business Algorithm [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing Excitation |
| Zdroj: | Journal of Physics: Conference Series Journal of Physics: Conference Series, IOP Publishing, 2015, 657, ⟨10.1088/1742-6596/657/1/012015⟩ Journal of Physics: Conference Series, IOP Publishing, 2015, 657, 012015 (6pp). ⟨10.1088/1742-6596/657/1/012015⟩ |
| ISSN: | 1742-6588 1742-6596 |
| DOI: | 10.1088/1742-6596/657/1/012015⟩ |
| Popis: | International audience; A method relying on a direct semi-analytic model is proposed for reconstructing cracks from eddy current images. We consider systems featuring a uniform excitation flow which can be modelled by means of fictitious current sources distributed in the crack volume. Thanks to the relative simplicity of the model a reconstruction method based the comparison of EC images is considered. The sensitivity of different images comparison criteria is studied for 2D surface cracks, leading to a reconstruction method based on a genetic algorithm. Numerical experiments are carried out to examine the performances of the algorithm in terms of convergence and accuracy. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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