Submicrometric gratings fabrication from photosensitive organo-silica-hafnia thin films elaborated by sol–gel processing

Autor: Janyce Franc, Damien Jamon, Francis Vocanson, Maryline Lesage, Emilie Gamet, Vincent Barnier, Yves Jourlin
Přispěvatelé: Laboratoire des matériaux avancés (LMA), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne] (LHC), Institut d'Optique Graduate School (IOGS)-Université Jean Monnet [Saint-Étienne] (UJM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Mécanique physique et interfaces (MPI-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-SMS, UMR 5146 - Laboratoire Claude Goux (LCG-ENSMSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Laboratoire Telecom Claude Chappe (LT2C), Université Jean Monnet [Saint-Étienne] (UJM)-Ecole d'ingenieurs Telecom Saint Etienne
Rok vydání: 2012
Předmět:
Zdroj: Thin Solid Films
Thin Solid Films, Elsevier, 2012, 520 (19), pp.6050. ⟨10.1016/j.tsf.2012.03.093⟩
ISSN: 0040-6090
DOI: 10.1016/j.tsf.2012.03.093
Popis: International audience; The aim of this study is the elaboration of a high index sol-gel material in order to prepare submicrometric grating. The gratings were obtained after few seconds of UV exposure in one step using an organically modified silica-hafnia matrix. The chemical composition of thin films after UV and annealing treatments were studied using Fourier Transform Infrared Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy. The study of optical properties revealed that the annealed films are transparent from 200 to 1000 nm and have a refractive index from 1.550 to 1.701 depending on the hafnium concentration.
Databáze: OpenAIRE