An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES

Autor:	John F. Watts, John Wolstenholme
Rok vydání:	2019
DOI:	10.1002/9781119417651
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b777f6cd99872aec5a9f42ce65850466 https://doi.org/10.1002/9781119417651 Zobrazit plný text záznamu