On the integration of design and test for chips embedding MEMS

Autor: Salvador Mir, Benoit Charlot
Přispěvatelé: Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 1999
Předmět:
Zdroj: IEEE Design & Test
IEEE Design & Test, IEEE, 1999, 16(4), pp.28-38. ⟨10.1109/54.808204⟩
ISSN: 2168-2356
DOI: 10.1109/54.808204⟩
Popis: This article illustrates how fault-based, defect-oriented test approaches can be applied to the problem of testing the next generation of chips embedding MEMS.
Databáze: OpenAIRE