DNA detection on transistor arrays following mutation-specific enzymatic amplification

Autor: Denis Côte, Ulrich Bockelmann, François Pouthas, Cédric Gentil
Přispěvatelé: Laboratoire Pierre Aigrain (LPA), Fédération de recherche du Département de physique de l'Ecole Normale Supérieure - ENS Paris (FRDPENS), École normale supérieure - Paris (ENS-PSL), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École normale supérieure - Paris (ENS-PSL), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Université Paris Diderot - Paris 7 (UPD7)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Université Paris Diderot - Paris 7 (UPD7)-Fédération de recherche du Département de physique de l'Ecole Normale Supérieure - ENS Paris (FRDPENS), École normale supérieure - Paris (ENS Paris), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École normale supérieure - Paris (ENS Paris), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Thomen, Philippe
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2004
Předmět:
Zdroj: Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, 2004, 84, pp.1594
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2004, 84, pp.1594
ISSN: 0003-6951
Popis: An integrated array of silicon field-effect transistor structures is used for electronic detection of label-free DNA. Measurements of the dc current–voltage characteristics of the transistors gives us access to reproducible detection of single- and double-stranded DNA, locally adsorbed on the surface of the device. We combine this approach with allele-specific polymerase chain reaction, to test for the 35delG mutation, a frequent mutation related to prelingual nonsyndromic deafness.
Databáze: OpenAIRE