Electromagnetic modeling and experimental characterization of dielectric material and liquid properties from RF to THz

Autor: Sebastien Massenot, Laurent Leyssenne, Damienne Bajon, Sidina Wane, Philippe Descamps, Guillaume Audoit, Rosine Coq-Germanicus
Přispěvatelé: NXP Semiconductors [France], Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace (ISAE-SUPAERO), Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie du CNRS (INC), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1, Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (LICB), Université de Bourgogne (UB)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département de Mathématiques, Informatique, Automatique (DMIA), Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (IRSEEM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (ESIGELEC), Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2013
Předmět:
Zdroj: 2013 International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA)
2013 International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA), Sep 2013, Torino (Turin), France. pp.1032-1035, ⟨10.1109/ICEAA.2013.6632399⟩
2013 International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA), Sep 2013, Torino (Turin), Italy. pp.1032-1035, ⟨10.1109/ICEAA.2013.6632399⟩
DOI: 10.1109/ICEAA.2013.6632399⟩
Popis: This paper proposes a complementary multi-physics material analysis approach based on broadband dielectric characterization and Atomic Force Microscopy. In the prospect of integrated dielectric sensor design, this approach was applied to polymers commonly employed by various emerging technologies.
Databáze: OpenAIRE