Hierarchical Clustering Driven Test Case Selection in Digital Circuits

Autor:	Meghana Kshirsagar, Lukas Rosenbauer, Conor Ryan, Krishn Kumar Gupt, Joe Sullivan
Rok vydání:	2021
Předmět:	Digital electronics Case selection business.industry Computer science Data mining business computer.software_genre computer Hierarchical clustering Test (assessment)
Zdroj:	ICSOFT
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8cb3ccac1be67dfdf530119eeefe46fb https://doi.org/10.5220/0010605800002992 Zobrazit plný text záznamu