MESURE OPTIQUE DE CONSTANTES PIÉZOÉLECTRIQUES À L'AIDE D'UNE SONDE INTERFÉROMÉTRIQUE HÉTÉRODYNE

Autor:	Daniel Royer, V. Kmetik
Jazyk:	francouzština
Rok vydání:	1992
Předmět:	[PHYS.HIST]Physics [physics]/Physics archives 020208 electrical & electronic engineering 0202 electrical engineering electronic engineering information engineering General Physics and Astronomy 02 engineering and technology 021001 nanoscience & nanotechnology 0210 nano-technology
Zdroj:	Journal de Physique IV Proceedings Journal de Physique IV Proceedings, EDP Sciences, 1992, 02 (C1), pp.C1-785-C1-788. ⟨10.1051/jp4:19921171⟩
ISSN:	1155-4339 1764-7177
DOI:	10.1051/jp4:19921171⟩
Popis:	Plusieurs constantes piezoelectriques de cristaux (SiO2, LiNbO3) et de polymeres (PVDF) ont ete determinees par mesure, avec un interferometre heterodyne, de la deformation de l'echantillon. Le deplacement minimum detectable avec cet instrument est de 10-3 A, la precision des mesures est de 5%. L'influence de la liaison avec le support sur le deplacement de la surface libre d'une plaquette a ete etablie et verifiee experimentalement. La valeur generalement admise du module d11 du quartz (2,31 x 10-12 m/V) a ete confirmee. Pour le niobate de lithium, dont la valeur de d33 est controversee, nous avons trouve d33= 9,5 x 10-12 m/V. Dans le cas du PVDF, la methode conduit a une constante d33 (13,6 x 10-12 m/V) plus de deux fois plus faible que celle indiquee par le fabricant.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8bca0c45cd8d16ed8f1e9187088e164d https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00251132 Zobrazit plný text záznamu