Atomic force microscope nanography on semiconductor heterostructures

Autor: Held, Ryan Eric
Přispěvatelé: Ensslin, Klaus
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2000
Předmět:
MESOSKOPISCHE SYSTEME (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE)
NANOSTRUCTURE (CONDENSED MATTER PHYSICS)
Physics
ELECTRONIC STRUCTURE OF THIN FILMS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)
NANOSTRUKTUR (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE)
NIEDRIGDIMENSIONALE STRUKTUR (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE)
MESOSCOPIC SYSTEMS (CONDENSED MATTER PHYSICS)
HETEROKONTAKT + HETEROSTRUKTUR (KRISTALLOGRAPHIE)
GALLIUM-ARSENIC COMPOUNDS (INORGANIC CHEMISTRY)
RASTERKRAFTMIKROSKOPE
RKM + RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
EPITAXIALSCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN)
GALLIUM-ARSEN-VERBINDUNGEN (ANORGANISCHE CHEMIE)
ELEKTRONISCHE STRUKTUR DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN)
ATOMIC FORCE MICROSCOPES
AFM + ATOMIC FORCE MICROSCOPY
HETEROJUNCTION + HETEROSTRUCTURE (CRYSTALLOGRAPHY)
LOW-DIMENSIONAL STRUCTURE (CONDENSED MATTER PHYSICS)
THIN LAYER FORMATION BY VAPORIZATION AND CONDENSATION (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)
ddc:530
DOI: 10.3929/ethz-a-003884275
Databáze: OpenAIRE
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