Cryogenic Ultra-Fast Bias Temperature Instability Trap Profiling of SiC MOSFETs
Autor: | Filip Geenen, Fabrizio Masin, Arno Stockman, Carlo De Santi, Jan Lettens, Dominic Waldhoer, Matteo Meneghini, Tibor Grasser, Peter Moens |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2022 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |