ALCANCES Y LIMITACIONES EN LA MEDICIÓN DE PELÍCULAS CON UN DIFRACTÓMETRO CONVENCIONAL: BRUKER D8 ADVANCE

Autor:	Ramón Ochoa Landín, Mario Flores Acosta, Abraham Mendoza Córdova
Rok vydání:	2016
Předmět:	Angulo rasante lcsh:T difractómetro convencional lcsh:Q películas delgadas lcsh:Science lcsh:Technology
Zdroj:	Epistemus, Iss 21, Pp 93-98 (2016)
ISSN:	2007-8196 2007-4530
DOI:	10.36790/epistemus.v10i21.39
Popis:	Las películas delgadas son capas de materiales con espesores que van desde algunos cuantos nanómetros hasta algunos micrómetros, dichas capas son creadas por técnicas tanto físicas como químicas. Para la caracterización estructural de los materiales cristalinos en forma de películas es indispensable la técnica de difracción de rayos X (DRX). El difractómetro indicado para hacer las mediciones debe de incluir un accesorio conocido como espejo Gobel. En el presente trabajo se realizaron mediciones sobre películas de: CdS, AgOH y CdCO3 utilizando un difractómetro convencional de polvos sin espejo Gobel, los resultados fueron favorables ya que se obtuvieron los patrones de difracción de los materiales, observándose una mejor definición en las películas de mayor espesor.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7cba077bae9e9e561957570760fed8e8 https://doi.org/10.36790/epistemus.v10i21.39 Zobrazit plný text záznamu