Design, Verification, Test, and In-Field Implications of Approximate Digital Integrated Circuits

Autor: Alberto Bosio, Stefano Di Carlo, Patrick Girard, Annachiara Ruospo, Ernesto Sanchez, Alessandro Savino, Lukas Sekanina, Marcello Traiola, Zdenek Vasicek, Arnaud Virazel
Přispěvatelé: INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (TEST), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Brno University of Technology [Brno] (BUT), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Approximate Computing Techniques
Approximate Computing Techniques, Springer International Publishing, pp.349-385, 2022, ⟨10.1007/978-3-030-94705-7_12⟩
Approximate Computing Techniques ISBN: 9783030947040
DOI: 10.1007/978-3-030-94705-7_12⟩
Popis: International audience; Today, the concept of approximation in computing is becoming more and more a “hot topic” to investigate how computing systems can be more energy-efficient, faster, and less complex. Intuitively, instead of performing exact computations and, consequently, requiring a high amount of resources, Approximate Computing aims at selectively relaxing the specifications, trading accuracy off for efficiency. While Approximate Computing allows many improvements when looking at systems’ performance, energy efficiency, and complexity, it poses significant challenges regarding the design, the verification, the test, and the in-field reliability of Approximate Digital Integrated Circuits. This chapter covers these aspects, leveraging the authors’ experience in the field to present state-of-the-art solutions to apply during the different development phases of an Approximate Computing system.
Databáze: OpenAIRE