Reliability of HfO2-Based Ferroelectric FETs: A Critical Review of Current and Future Challenges

Autor:	Nicolo Zagni, Francesco Maria Puglisi, Paolo Pavan, Muhammad Ashraful Alam
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Proceedings of the IEEE. 111:158-184
ISSN:	1558-2256 0018-9219
DOI:	10.1109/jproc.2023.3234607
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::751f329401b9a7d5a51666d3e6e1fc19 https://doi.org/10.1109/jproc.2023.3234607 Zobrazit plný text záznamu