Atom probe contribution to the caracterisation of CIGSe grain boundaries
| Autor: | F. Couzinie-Devy, J. Kessler, Philippe Pareige, Emmanuel Cadel, Nicolas Barreau |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Groupe de physique des matériaux (GPM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU), Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: |
Atoms
Materials science Atom probe Passivation Misorientation Analytical chemistry 02 engineering and technology 01 natural sciences Focused ion beam Atomic units Co-evaporations law.invention Semiconducting selenium compounds New results law 0103 physical sciences Gb interface Thin film [PHYS.COND]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat] 010306 general physics Molybdenum Atomic-scale resolution Substrates business.industry Atom-probe tomography Cu(In Laser pulsing 021001 nanoscience & nanotechnology Soda lime glass substrate Electron backscattering Atomic scale Photovoltaic effects Composition profile Grain boundaries Optoelectronics Analytic tools Grain boundary Ga)Se 0210 nano-technology business Ultra-fast Mis-orientation Electron backscatter diffraction |
| Zdroj: | 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2011 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2011, Jun 2011, Seattle, WA, United States. pp.001966-001971 |
| Popis: | International audience; Atom Probe Tomography (APT) technique is the only nano-scale-sensitive analytic tool allowing 3D chemical analysis with atomic scale resolution. For long restricted to conductive samples, implementation of ultra fast laser pulsing extend now the field of applications to the analysis of semiconductor materials. In the present study, high efficiency Cu(In, Ga)Se 2 (CIGSe) thin films have been investigated by APT in order to solve interrogations about grain boundaries (GBs) composition. The analyzed CIGSe layers have been grown by co-evaporation on Mo-coated soda-lime glass substrates following the standard 3-stage process and the atom probe tips prepared using a focused ion beam (FIB) equipment. In order to ensure the presence of GB in the small APT investigated volume, location and misorientation of GBs have been determined by electron backscattering scanning diffraction (EBSD) and one GB interface placed close to the edge of the tip. From APT analyses, spatial distribution of CIGSe elements can be imaged at atomic scale; particular attention has been devoted to the composition profiles at the vicinity of the CIGSe GB interface. New results are compared with usual CIGSe GB passivation models. © 2011 IEEE. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|