Variability and disturb sources in ferroelectric 3D NANDs and comparison to Charge-Trap equivalents

Autor: Pesic, M., Padovani, A., Rollo, T., Beltrando, B., Strand, J., Agrawal, P., Shluger, A., Larcher, L.
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: 2022 IEEE International Memory Workshop (IMW).
DOI: 10.1109/imw52921.2022.9779245
Databáze: OpenAIRE