Variability and disturb sources in ferroelectric 3D NANDs and comparison to Charge-Trap equivalents
Autor: | Pesic, M., Padovani, A., Rollo, T., Beltrando, B., Strand, J., Agrawal, P., Shluger, A., Larcher, L. |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | 2022 IEEE International Memory Workshop (IMW). |
DOI: | 10.1109/imw52921.2022.9779245 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |