Dark-field electron holography for the measurement of geometric phase

Autor: Florent Houdellier, Florian Hüe, Etienne Snoeck, Martin Hÿtch
Přispěvatelé: Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT-FR 2599), Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Interférométrie, In situ et Instrumentation pour la Microscopie Electronique (CEMES-I3EM), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse)
Rok vydání: 2010
Předmět:
Diffraction
Field (physics)
[PHYS.PHYS.PHYS-ACC-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Accelerator Physics [physics.acc-ph]
Phase (waves)
Holography
Physics::Optics
02 engineering and technology
Electron
01 natural sciences
Electron holography
law.invention
[SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Optics
[PHYS.QPHY]Physics [physics]/Quantum Physics [quant-ph]
law
0103 physical sciences
[PHYS.HEXP]Physics [physics]/High Energy Physics - Experiment [hep-ex]
Instrumentation
010302 applied physics
Physics
[PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]
business.industry
021001 nanoscience & nanotechnology
Dark field microscopy
Atomic and Molecular Physics
and Optics
Electronic
Optical and Magnetic Materials
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism
Geometric phase
[SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic
0210 nano-technology
business
[SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing
Zdroj: Ultramicroscopy
Ultramicroscopy, Elsevier, 2011, 111 (8), pp.1328-1337. ⟨10.1016/j.ultramic.2011.04.008⟩
Ultramicroscopy, 2011, 111 (8), pp.1328-1337. ⟨10.1016/j.ultramic.2011.04.008⟩
ISSN: 1879-2723
0304-3991
DOI: 10.1016/j.ultramic.2011.04.008⟩
Popis: International audience; The genesis, theoretical basis and practical application of the new electron holographic dark-field technique for mapping strain in nanostructures are presented. The development places geometric phase within a unified theoretical framework for phase measurements by electron holography. The total phase of the transmitted and diffracted beams is described as a sum of four contributions: crystalline, electrostatic, magnetic and geometric. Each contribution is outlined briefly and leads to the proposal to measure geometric phase by dark-field electron holography (DFEH). The experimental conditions, phase reconstruction and analysis are detailed for off-axis electron holography using examples from the field of semiconductors. A method for correcting for thickness variations will be proposed and demonstrated using the phase from the corresponding bright-field electron hologram.
Databáze: OpenAIRE
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