Oxygen Diffusion and Electrical Conductivity Measurements in Uranium Dioxide
| Autor: | G. Carlot, Mathieu Fraczkiewicz, Philippe Garcia, Gianguido Baldinozzi, C. Davoisne, C. Petot, B. Pasquet, David Simeone |
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| Přispěvatelé: | Département d'Etudes des Combustibles (DEC), CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) (CEA-DES (ex-DEN)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Laboratoire Structures, Propriétés et Modélisation des solides (SPMS), Institut de Chimie du CNRS (INC)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'Analyse Microstructurale des Matériaux (LA2M), Service des Recherches Métallurgiques Appliquées (SRMA), Département des Matériaux pour le Nucléaire (DMN), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) (CEA-DES (ex-DEN)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Département des Matériaux pour le Nucléaire (DMN), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay |
| Rok vydání: | 2010 |
| Předmět: |
Radiation
Chemistry 020502 materials Uranium dioxide Analytical chemistry chemistry.chemical_element 02 engineering and technology 021001 nanoscience & nanotechnology Condensed Matter Physics Oxygen chemistry.chemical_compound 0205 materials engineering Electrical resistivity and conductivity TRACER [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci] Oxygen diffusion General Materials Science Diffusion (business) 0210 nano-technology Single crystal |
| Zdroj: | Defect and Diffusion Forum Defect and Diffusion Forum, Trans Tech Publications, 2010, 297-301, pp.966-971. ⟨10.4028/www.scientific.net/DDF.297-301.966⟩ Defect and Diffusion Forum, 2010, 297-301, pp.966-971. ⟨10.4028/www.scientific.net/DDF.297-301.966⟩ |
| ISSN: | 1662-9507 1012-0386 |
| DOI: | 10.4028/www.scientific.net/ddf.297-301.966 |
| Popis: | International audience; In this paper, we describe two experimental set-ups which enable the measurement of electrical properties and intrinsic diffusion coefficients in UO 2. Electrical conductivity measurements are insured by a standard four point Kelvin-Bridge method. In parallel, the gas-solid isotopic exchange method is used to load the samples with 18O tracer atoms, the concentration profile of which are subsequently characterized using SIMS and chromatic confocal microscopy. An application of both types of measurements on a UO 2 single crystal is given. The diffusion study was carried out at 750degC, and the electrical conductivity study was performed between 1000degC and 1300degC at oxygen potentials at which the material exhibits extrinsic behaviour. We show how a careful use of both measurements in conjunction can be an indication of the operative migration mechanism. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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