Wie Alterungsmodelle für integrierte Transistoren die Entwicklung zuverlässiger Systeme unterstützen

Autor:	K.-U. Giering, R. Jancke, Andre Lange
Rok vydání:	2021
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::42eab74de3637c915db6ab9686ef08ad https://doi.org/10.51202/9783181023778-173 Zobrazit plný text záznamu