Lifetime prediction modeling of non-insulated TO-220AB packages with lead-based solder joints during power cycling

Autor: Nathalie Batut, Ambroise Schellmanns, René Leroy, Sébastien Jacques, Adelphe Caldeira, Laurent Gonthier
Přispěvatelé: GREMAN (matériaux, microélectronique, acoustique et nanotechnologies) ( GREMAN - UMR 7347 ), Université de Tours-Institut National des Sciences Appliquées - Centre Val de Loire ( INSA CVL ), Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Université François Rabelais, Polytech'Tours, Laboratoire de Mécanique et Rhéologie, Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), GREMAN (matériaux, microélectronique, acoustique et nanotechnologies) (GREMAN - UMR 7347), Université de Tours-Institut National des Sciences Appliquées - Centre Val de Loire (INSA CVL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Mécanique et de Rhéologie (LMR), Institut National des Sciences Appliquées - Centre Val de Loire (INSA CVL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Tours-Polytech'Tours, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Tours (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Tours (UT)-Polytech'Tours
Rok vydání: 2012
Předmět:
Zdroj: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2012, 52 (1), pp.212-216. 〈10.1016/j.microrel.2011.08.017〉
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2012, 52 (1), pp.212-216. ⟨10.1016/j.microrel.2011.08.017⟩
ISSN: 0026-2714
DOI: 10.1016/j.microrel.2011.08.017
Popis: In this paper, a physical model is proposed to estimate the TRIAC solder joint fatigue during power cycling. The lifetime prediction is based on the following assumptions: the case temperature swing (DTcase) is the main acceleration factor, the solder joints are the weakest materials in the non-insulated TO-220AB TRIAC package and the plastic strain within the solder layer due to shearing is the failure cause.
Databáze: OpenAIRE