A Case Study to Apprehend RF Susceptibility of Operational Amplifiers

Autor: E. Sicard, A. Boyer
Přispěvatelé: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019)
12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2019), Oct 2019, Haining, China
DOI: 10.1109/emccompo.2019.8919918
Popis: This short paper summarizes the content of a practical training dedicated to the susceptibility of operational amplifiers to electromagnetic disturbances. The typical failure mechanisms of this type of device are characterized and compared on two commercial components. An analog behavioral model is then derived to predict the susceptibility of this device in various configuration. The extent version of this summary can be found in [1].
Databáze: OpenAIRE