MEDIÇÃO DO GAP ÓPTICO DE FILMES FINOS POR MEIO DAS PRÓPRIEDADES ÓPTICAS
| Autor: | Thércio Henrique de Carvalho Costa, Ivan Alves de Souza, Maria Gerlania Oliveira Queiroz, J. C. A. Queiroz, Raysa Cristiano Paulino Pereira, Fernanda de Melo Fernandes, E. J. C. Santos |
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| Jazyk: | portugalština |
| Rok vydání: | 2018 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | HOLOS; v. 3 (2018); 446-455 Holos Instituto Federal do Rio Grande do Norte (IFRN) instacron:IFRN Holos, Vol 3, Iss 0, Pp 446-455 (2018) |
| ISSN: | 1807-1600 |
| Popis: | O desempenho óptico de qualquer material resulta da sua interação com uma radiação eletromagnética. Experimentalmente, através de medições de absorção óptica, é possível estimar o valor da energia fotoelétrica absorvida pelo material e obter indicações sobre o tipo de transição da banda. Neste trabalho é realizada a análise de deposições de filmes finos com 100% de argônio em substrato de vidro, depositados por magnetron sputtering, com tempos de deposição de trinta minutos e de uma hora. As constantes ópticas dos filmes foram medidas por medições de refletância óptica e transmitância. Esses valores, juntamente com micrografias obtidas no microscópio eletrônico de varredura (MEV), promovem a construção da curva que fornece a estimativa da energia de bandgap dos filmes. Os filmes finos de argônio com o tempo de deposição maior do que os outros (1 hora) são apresentados como mais condutores, devido à sua baixa energia de bandgap. Os resultados sugerem que 100% de filmes de argônio podem ter um potencial considerável para serem usados como eletrodos transparentes aplicados a células solares, desde que tenham sua resposta óptica otimizada por algum elemento dopante. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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