Quality Level Linear Models Electronic Systems

Autor: Eidukas, D., Kauno technologijos universitetas
Rok vydání: 2012
Předmět:
Zdroj: Electronics and Electrical Engineering. 119
ISSN: 2029-5731
1392-1215
DOI: 10.5755/j01.eee.119.3.1364
Popis: Continuous control main probability characteristic modeling methods for ES has been made, when separate independent device parameters defect level probabilistic distributions are “a priori” known. Defected devices flow in control operation is targeted to localized repair operation in this stage, then ES with second type errors goes again into control and “rotates” until all devices are accepted as good. Second type classification errors probabilities in control and repair operations are described by one generalized error model, which is used in linear defect level transformation by different parameters. For all defect level transformation, defect levels densities by different parameters combination, is used referencing by transformation model. It is offered to use approximated models instead of exact whole ES defect level probabilistic density by different parameters, described by beta law density. This method simplifies modeling procedure, without decreasing engineering analysis accuracy.
Sudaryta metodika daugiaparametrinių mechatroninių gaminių ištisinės kontrolės pagrindinių tikimybių charakteristikoms modeliuoti, kai atskirų nepriklausomų gaminio parametrų defektingumo lygių tikimybiniai skirstiniai yra aprioriškai žinomi. Kontrolės operacijoje išbrauktų gaminių srautas nukreipiamas į šio etapo lokalizuotą remonto operaciją, po kurios gaminiai su antros rūšies klaida vėl grąžinami kontrolei atlikti ir tai kartojasi tol, kol visi gaminiai pripažįstami gerais. Antros rūšies klasifikavimo klaidų tikimybės (defektų turintis gaminys pripažįstamas geru) kontrolės ir remonto operacijose aprašomas vienu apibendrintos klaidos modeliu, kuris taikomas tiesinei defektingumo lygių transformacijai pagal atskirus parametrus. Viso gaminio defektingumo lygio transformacijai taikomas defektingumo lygių tankių pagal atskirus parametrus sujungimas, remiantis transformacijos modeliu. Pasiūlyta vietoj tikslių viso gaminio defektingumo lygio tikimybių tankio transformuotų modelių taikyti aproksimuotus modelius, aprašomus apibendrinto beta dėsnio tankiu, nes tai vientisas modelis, o tikslus defektingumo lygio tankis išreiškiamas keliolika skirtingų modelių kiekviename integravimo rėžių daliniame intervale. Tai gerokai supaprastina modeliavimo procedūrą, bet nesumažina inžinerinės analizės rezultatų tikslumo.
Databáze: OpenAIRE
Externí odkaz: