| Autor: |
Fabero, Juan Carlos, Korkian, Golnaz, Franco, Francisco Javier, Mecha, Hortensia, Clemente, Juan Antonio |
| Rok vydání: |
2022 |
| Předmět: |
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| DOI: |
10.5281/zenodo.6683642 |
| Popis: |
Se presenta un estudio experimental de la sensibilidad frente a Single Event Upsets (SEU) de una FPGA de 28-nm de tipo Commercial-Off-The-Shelf (COTS) frente a neutrones térmicos. Se mostrarán diversos SEU observados en la memoria de configuración (CRAM), Flip-Flops (FF) y Block RAMs (BRAM) del dispositivo. También se analizarán las formas de los eventos múltiples observados (de varias multiplicidades), así como la dependencia de éstos con el ángulo de incidencia del haz de partículas sobre la superficie del dispositivo. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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