Integrated x-ray-scattering intensity measurement of the order parameter at the nematic-to-smectic-Aphase transition
Autor: | Peter S. Pershan, L. B. Sorensen, Benjamin M. Ocko, Kelby K. Chan, Moshe Deutsch |
---|---|
Rok vydání: | 1985 |
Předmět: | |
Zdroj: | Physical Review Letters. 54:920-923 |
ISSN: | 0031-9007 |
DOI: | 10.1103/physrevlett.54.920 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |