A new polarimeter scheme based on solid state semiconductors
| Autor: | Heiner Castro Gutierrez |
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| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2012 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Ingeniare. Revista chilena de ingeniería v.20 n.3 2012 SciELO Chile CONICYT Chile instacron:CONICYT |
| Popis: | Un nuevo esquema de polarimetro es sugerido usando semiconductores de estado solido. La nueva aproximacion esta basada en la modulacion sobre las intensidades de los rayos difractados a traves de una rejilla quiral de dos dimensiones reportado recientemente. Sera demostrado que al menos cuatro mediciones de intensidades de rayos difractados no equivalentes son necesarios para estimar el estado de polarizacion del rayo incidente. El azimut del rayo incidente es variado, rotando un lente polarizador lineal montado en un motor paso a paso. La intensidad de cuatro rayos difractados es medida por medio de una pequena pantalla, una camara CCD y algunos algoritmos corriendo en un computador. El software de desarrollo LabVIEW fue usado para controlar el hardware y presentar los resultados. Matlab fue utilizado para calcular las intensidades de los rayos difractados y asi computar el azimut y la elipticidad del rayo incidente. Aunque en teoria los dos parametros, el azimut y la elipticidad, pueden ser estimados, los experimentos muestran que solo la estimacion del azimut es precisa. Mientras que la elipticidad no puede ser estimada con precision. El error en la estimacion del azimut depende de las variaciones de potencia del rayo incidente. La estimacion del azimut fue encontrada correcta entre los grados [0,140) y (150,180]. Los grandes errores en el azimut encontrados entre 140 y 150 grados ocurren por razones desconocidas. |
| Databáze: | OpenAIRE |
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