Energy dependent systematic errors in dual-energy X-ray CT

Autor: Goh, K. L., Soo Chin Liew, Hasegawa, B. H.
Rok vydání: 2002
Zdroj: Scopus-Elsevier
ResearcherID
DOI: 10.1109/nssmic.1995.500330
Databáze: OpenAIRE