Fault Resilience Techniques for Flash Memory of DNN Accelerators

Autor:	Shyue-Kung Lu, Yu-Sheng Wu, Jin-Hua Hong, Kohei Miyase
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2100724ed887cea77aac85d208899a75 https://doi.org/10.1109/itcasia55616.2022.00011 Zobrazit plný text záznamu