Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe

Autor:	Popa, Mihail
Jazyk:	Romanian; Moldavian; Moldovan
Rok vydání:	2020
Předmět:	absorbtion spectrum spectrophotometer o lăţime de bandă de semiconductoare decalaj spectrofotometru USARB a semiconductor band gap width spectrul de absorbţie reflection spectrum spectru de reflecţie
DOI:	10.5281/zenodo.3625732
Popis:	Spectroscopic technique is very useful for characterising semiconducting materials. We demonstrate here a new method for determination the energy band gap of thin fims from reflectance data. Popa, Mihail. Determinarea din spectrele de reflexie a lărgimii benzii interzise a compuşilor semiconductori de tip ZnSxSe / Mihail Popa // Tradiţie şi inovare în cercetarea ştiinţifică, Ediţia a 5-a : Materialele Colloquia Professorum din 10 octombrie 2014. – Bălţi. – 2015. – P. 227-231.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1da1482d30b035f05399dcdf60e27431 Zobrazit plný text záznamu