Utilização do espectrômetro Alta II para obtenção da absortância solar de superfícies opacas
Autor: | Adriana Rodrigues Pereira, Raquel Diniz Oliveira, Simone Queiroz da Silveira Hirashima |
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Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Revista Tecnologia e Sociedade; v. 17, n. 46 (2021); 216-228 Revista Tecnologia e Sociedade Universidade Tecnológica Federal do Paraná (UTFPR) instacron:UTFPR |
ISSN: | 1984-3526 1809-0044 |
DOI: | 10.3895/rts.v17n46.9663 |
Popis: | A absortância solar de superfícies possui grande influência nos ganhos de calor do edifício, influenciando o seu comportamento térmico. O método mais preciso para obter a absortância de uma amostra é por meio da medição de sua refletância mediante o uso de um espectrofotômetro. No entanto, este equipamento possui um custo elevado e não permite a realização de medições de campo. Uma alternativa para esse método é a utilização do espectrômetro Alta II, que é mais acessível e permite a medição das refletâncias em onze comprimentos de onda. Este artigo apresenta a metodologia de medições de refletância usando o espectrômetro Alta II e os procedimentos de cálculo para obtenção da absortância solar. Como resultado, este artigo apresenta a absortância solar obtida em ensaios para alguns materiais, que podem servir como referência para pesquisas futuras. |
Databáze: | OpenAIRE |
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