Utilização do espectrômetro Alta II para obtenção da absortância solar de superfícies opacas

Autor: Adriana Rodrigues Pereira, Raquel Diniz Oliveira, Simone Queiroz da Silveira Hirashima
Rok vydání: 2021
Předmět:
Zdroj: Revista Tecnologia e Sociedade; v. 17, n. 46 (2021); 216-228
Revista Tecnologia e Sociedade
Universidade Tecnológica Federal do Paraná (UTFPR)
instacron:UTFPR
ISSN: 1984-3526
1809-0044
DOI: 10.3895/rts.v17n46.9663
Popis: A absortância solar de superfícies possui grande influência nos ganhos de calor do edifício, influenciando o seu comportamento térmico. O método mais preciso para obter a absortância de uma amostra é por meio da medição de sua refletância mediante o uso de um espectrofotômetro. No entanto, este equipamento possui um custo elevado e não permite a realização de medições de campo. Uma alternativa para esse método é a utilização do espectrômetro Alta II, que é mais acessível e permite a medição das refletâncias em onze comprimentos de onda. Este artigo apresenta a metodologia de medições de refletância usando o espectrômetro Alta II e os procedimentos de cálculo para obtenção da absortância solar. Como resultado, este artigo apresenta a absortância solar obtida em ensaios para alguns materiais, que podem servir como referência para pesquisas futuras.
Databáze: OpenAIRE