Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica
| Autor: | Ilich Contreras Verástegui, Whualkuer Lozano Bartra, Albert Reyna Ocas |
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| Jazyk: | Spanish; Castilian |
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: |
Physics
Work (thermodynamics) piezoelectricity business.industry QC1-999 oscilador forzado Michelson interferometer Deformation (meteorology) Michelson interferometry Piezoelectricity law.invention Quality (physics) Optics law forced oscillator Interferómetro de Michelson piezoelectricidad Damping constant business Cartography Voltage |
| Zdroj: | Revista de Investigación de Física; Vol. 14 Núm. 01 (2011); 1-4 Revista de Investigación de Física; Vol 14 No 01 (2011); 1-4 Revista de Investigación de Física, Vol 14, Iss 01 (2011) |
| ISSN: | 1605-7724 1728-2977 |
| Popis: | En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado. In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulating its behaviour like a driven oscillator. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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