Pre-determining the location of electromigrated gaps by nonlinear optical imaging
| Autor: | G. Colas des Francs, Mickaël Buret, Jean Dellinger, Alexandre Bouhelier, Marie-Maxime Mennemanteuil |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Laboratoire des sciences de l'ingénieur, de l'informatique et de l'imagerie (ICube), École Nationale du Génie de l'Eau et de l'Environnement de Strasbourg (ENGEES)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National des Sciences Appliquées - Strasbourg (INSA Strasbourg), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Les Hôpitaux Universitaires de Strasbourg (HUS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et Nanosciences Grand-Est (MNGE), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Réseau nanophotonique et optique, Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Strasbourg (INSA Strasbourg), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Nationale du Génie de l'Eau et de l'Environnement de Strasbourg (ENGEES)-Réseau nanophotonique et optique, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Matériaux et nanosciences d'Alsace (FMNGE), Institut de Chimie du CNRS (INC)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2014 |
| Předmět: |
Materials science
Physics and Astronomy (miscellaneous) Condensed Matter - Mesoscale and Nanoscale Physics [PHYS.PHYS]Physics [physics]/Physics [physics] business.industry Nanowire FOS: Physical sciences Nonlinear optics Physics::Optics Radiation Laser Electromigration law.invention Nonlinear system Electrical resistivity and conductivity law Mesoscale and Nanoscale Physics (cond-mat.mes-hall) Optoelectronics business Ultrashort pulse Optics (physics.optics) Physics - Optics |
| Zdroj: | Applied Physics Letters Applied Physics Letters, 2014, 105 (2), ⟨10.1063/1.4890415⟩ Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 105 (2), ⟨10.1063/1.4890415⟩ |
| ISSN: | 0003-6951 |
| Popis: | In this paper we describe a nonlinear imaging method employed to spatially map the occurrence of constrictions occurring on an electrically-stressed gold nanowire. The approach consists at measuring the influence of a tightly focused ultrafast pulsed laser on the electronic transport in the nanowire. We found that structural defects distributed along the nanowire are efficient nonlinear optical sources of radiation and that the differential conductance is significantly decreased when the laser is incident on such electrically-induced morphological changes. This imaging technique is applied to pre-determined the location of the electrical failure before it occurs. 3 figures |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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