Характеристики двух затворных КМОП нанотранзисторов c градиентно-легированной рабочей областью

Jazyk: ruština
Rok vydání: 2016
Předmět:
DOI: 10.25682/niisi.2016.2.11720
Popis: При помощи численного моделирования исследуются электро-физические характеристики двух затворных транзисторных КНИ наноструктур с неравномерно-легированной рабочей областью. Предложенная математическая модель имплементирует подход численного решения 2D уравнения Пуассона. На основании полученного распределения потенциала вычисляются пороговое напряжение, подпороговый наклон и вольт-амперные характеристики суб-50 нм структур.
№2 (2018)
Databáze: OpenAIRE