Autor:	Sony Mathew, Michael Pecht, Shunfeng Cheng, Nagarajan Raghavan, Jie Gu
Rok vydání:	2018
Předmět:	Computer science Physics of failure Reliability engineering
Zdroj:	Prognostics and Health Management of Electronics
DOI:	10.1002/9781119515326.ch3
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fd0f8a8a52c9d2c3f26a81bf56307d47 https://doi.org/10.1002/9781119515326.ch3 Zobrazit plný text záznamu