High-resolution TOF Measurement Using M-sequence Code Based on Vernier Effect
Autor: | Kouta Kizaki, Shinji Ohyama |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers. 55:830-838 |
ISSN: | 1883-8189 0453-4654 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |