High-resolution TOF Measurement Using M-sequence Code Based on Vernier Effect

Autor: Kouta Kizaki, Shinji Ohyama
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers. 55:830-838
ISSN: 1883-8189
0453-4654
Databáze: OpenAIRE