Fast k-Space Mapping of Electronic Bands Using Time-of-Flight Based Cathode-Lens Microspectroscopy

Autor:	Gerd Schönhense
Rok vydání:	2015
Předmět:	Time of flight Optics Materials science Cathode lens business.industry k-space business Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 21:118-123
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927615013240
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fc81c987d4e47777125b2657bde9ed1c https://doi.org/10.1017/s1431927615013240 Zobrazit plný text záznamu