TEM structural study of GaInP layers grown by solid source molecular beam epitaxy

Autor: Y-W Ok, J D Song, J M Kim, Y T Lee, T-Y Seong
Rok vydání: 2018
Předmět:
Zdroj: Microscopy of Semiconducting Materials 2001 ISBN: 9781351074629
DOI: 10.1201/9781351074629-42
Databáze: OpenAIRE