High‐resolution peak analysis in TOF SIMS data

Autor:	Amy V. Walker, Negar Shahrokh Esfahani, Lev D. Gelb
Rok vydání:	2020
Předmět:	Peak analysis Materials science Materials Chemistry Analytical chemistry High resolution Surfaces and Interfaces General Chemistry Condensed Matter Physics Surfaces Coatings and Films
Zdroj:	Surface and Interface Analysis. 53:53-67
ISSN:	1096-9918 0142-2421
DOI:	10.1002/sia.6872
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fba9da88f6e67c64268e55b2d9f687d0 https://doi.org/10.1002/sia.6872 Zobrazit plný text záznamu Plný text