Electron Beam Damage Mechanisms in Solution Phase Electron Microscopy of Metal-Organic Frameworks
| Autor: | Karthikeyan Gnanasekaran, Roberto dos Reis, Nathan Gianneschi |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 28:2170-2172 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| DOI: | 10.1017/s143192762200839x |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|